标签:卡片双弯扭转试验机,智能卡芯片弯曲测试机,IC卡动态弯曲测试机,芯片磁条复合卡动态扭曲试验机
machine IC智能卡反复弯曲扭转测试仪简介:本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1,国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; 符合以上标准。
machine IC智能卡反复弯曲扭转测试仪技 术 参 数
1.型号:MX-IC
2.扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm
3.正反向各15°,总扭曲角度30°
4.測試周期:1~9999次
5.測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
6.长边大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)
7.长边小位移量为2mm±0.50mm
8.短边大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)
9.长边小位移量为1mm±0.50mm
10.電 壓:AC220V±5%
11.外形尺寸:L670 X W380 X H220
12.功 率:35W
13.儀器重量:70kg
标准双向扭转:
长边弯曲工位数:5工位
短边弯曲工位数:5工位
双向扭转工位数:5工位
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